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      方塊電阻測試儀

      更新時間:2024-05-06

      產(chǎn)品型號:XRS-KDB-2B

      廠家性質(zhì):生產(chǎn)廠家

      訪問次數(shù):482

      簡要描述:

      本設(shè)備采用四探針法專用于金屬薄膜方塊電阻,XRS-KDB-2B 測試儀嚴(yán)格參照國際標(biāo)準(zhǔn)
      SEMI MF 374-0307 對設(shè)備的要求研制,運(yùn)用了先進(jìn)的半導(dǎo)體薄層測量技術(shù),無需特別制
      樣,可測不規(guī)則的金屬薄膜。

      本設(shè)備采用四探針法專用于金屬薄膜方塊電阻,XRS-KDB-2B 測試儀嚴(yán)格參照國際標(biāo)準(zhǔn)
      SEMI MF 374-0307 對設(shè)備的要求研制,運(yùn)用了先進(jìn)的半導(dǎo)體薄層測量技術(shù),無需特別制
      樣,可測不規(guī)則的金屬薄膜。
      技術(shù)指標(biāo):方塊電阻測量范圍(3 位有效數(shù)字):0.00001-0.3Ω/□。
      測量電流分兩檔:100mA 和 1000mA。
      最小分辨率:0.00001Ω/□。
      試樣尺寸:直徑大于 32mm。
      試樣厚度:t≤5μm(約)。
      探針間距:1.59mm。
      成套設(shè)備包含:
      XRS-KDB-2B 主機(jī) 一臺
      XRS-KDJ-1A 手動測試架 一臺
      XRS-KDT-5 紅寶石四探針頭 一個
      電源線 一根
      四探針頭連接線 一根
      選購件:
      微控制器及配套測試系統(tǒng) 一套

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